D256多針點測機

SemiLase-D是晶圓點測機,適應用于高速二極管晶圓的測試。
型號:
上架時間:2021-03-29
瀏覽次數:2597
產品詳情

設備特征

產品特點

產品介紹

D256多針點測機是一種使用多針探針盤測試芯片電性能的設備,與行業中常見的探針臺比較,D256的產率具有明顯優勢,約是其他常見探針臺的3-5倍。

D256使用256根針與晶圓芯片形成電接觸。測試芯片時,針與針之間的切換由繼電器來完成,這樣可以大幅度減少探針臺機械移動的時間,顯著提升了設備的產率。

在設備架構上,用戶可以添加芯片外觀檢測功能,在測試芯片電性能的同時進行芯片外觀檢測。針對該產品,我們已經申請了發明專利。


上一篇:PERC激光開槽設備

下一篇:晶圓劃片設備

亚洲日韩高清国产拍精品